01

       背景

       手機(jī)、平板等電子產(chǎn)品的普及，造成關(guān)鍵的原材料之一，即電子玻璃的需求激增。電子玻璃不僅包括手機(jī)蓋板玻璃，還廣泛應(yīng)用在液晶基板、OLED基板等關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

       電子玻璃前面部分是流程性生產(chǎn)，將原材料放置于池爐中，通過高溫熔化，形成半液態(tài)膠狀體，再通過高溫箱式馬弗爐的溢流磚，在受重力影響、膠體下溢的過程中，通過兩邊裝有熱電偶的冷凝管進(jìn)行淬火成片，到了高溫箱式馬弗爐低端再使用機(jī)械臂進(jìn)行切片。后半部分是離散制造，即對(duì)成片后的玻璃進(jìn)行傳輸、磨邊和在線的檢驗(yàn)(檢驗(yàn)結(jié)石、氣泡等缺陷)，最后進(jìn)入按小時(shí)抽樣的離線檢測環(huán)節(jié)。

       電子玻璃的制造分為兩種，即浮法和溢流法。溢流法相對(duì)于浮法，有著如有較高的玻璃應(yīng)變點(diǎn)；有較低的密度；更佳的耐化學(xué)性；更高的機(jī)械強(qiáng)度等優(yōu)點(diǎn)，因此得到了美國康寧、日本旭硝子和電氣硝子等三家主流玻璃廠家的采用，由于其生產(chǎn)過程對(duì)工藝和質(zhì)量的要求非常高，因此國內(nèi)很多廠家，如彩虹、東旭和華映，雖然也采用了溢流法的工藝，但是在質(zhì)量和產(chǎn)能上一直沒有辦法保持高品質(zhì)穩(wěn)定生產(chǎn)，因此全球*90%以上主要被美國康寧、日本旭硝子和電氣硝子所占據(jù)。

       在玻璃的離線檢驗(yàn)環(huán)節(jié)，質(zhì)檢工程師會(huì)使用專業(yè)的光學(xué)儀器測量玻璃片在不同位置的厚度，對(duì)厚度進(jìn)行對(duì)比。如果不同區(qū)域的厚度差值超過一定范圍，就會(huì)影響電子玻璃的成色，導(dǎo)致色差，這類質(zhì)量缺陷叫做翹曲。

       翹曲產(chǎn)生的原因一般都是因?yàn)楦邷叵涫今R弗爐里的熱電偶控制出現(xiàn)了偏離。但是為了保證在不同環(huán)境和產(chǎn)品生產(chǎn)過程中的魯棒性，這些控制門限往往都是靜態(tài)門限，不會(huì)自動(dòng)調(diào)整，而且通常會(huì)設(shè)置得較為寬泛，因此會(huì)導(dǎo)致在不同產(chǎn)品的工藝要求下，即使工作在容忍限以內(nèi)，仍然會(huì)出現(xiàn)翹曲的缺陷問題。

       翹曲一旦出現(xiàn)，傳統(tǒng)的解決方案是基于翹曲產(chǎn)生位置的離線報(bào)告，由技術(shù)人員手動(dòng)挑選出來厚度數(shù)據(jù)，再根據(jù)專家的經(jīng)驗(yàn)去調(diào)整高溫箱式馬弗爐特定位置的熱電偶控制參數(shù)。同時(shí)，熱電偶控制參數(shù)的調(diào)整范圍也是根據(jù)專家的經(jīng)驗(yàn)，并沒有明確的量化值，只能不斷去嘗試增大或者減少熱電偶的功率反復(fù)嘗試。

       同時(shí)，因?yàn)闇囟日{(diào)整和最終的質(zhì)檢質(zhì)檢，相隔了幾個(gè)小時(shí)，因此即使溫度出現(xiàn)了偏差，也只能在后期幾個(gè)小時(shí)的光學(xué)檢驗(yàn)中才能知道，因此調(diào)整工藝參數(shù)到發(fā)現(xiàn)問題改進(jìn)之間隔了幾個(gè)小時(shí)的時(shí)間，因此每次嘗試都會(huì)花很長時(shí)間。

       正是因?yàn)檫@些問題的存在，導(dǎo)致一旦出現(xiàn)翹曲，產(chǎn)線就有可能幾個(gè)星期都無法正常生產(chǎn)，非常影響綜合的良率和產(chǎn)量。

       02

       方案

       系統(tǒng)主要工作內(nèi)容如下：

       ① 自動(dòng)采集質(zhì)檢數(shù)據(jù)，并且將其和熱電偶控制參數(shù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)分析

       翹曲的質(zhì)檢數(shù)據(jù)是以csv格式的文件，保存在檢驗(yàn)儀器內(nèi)置的ftp服務(wù)器上；而實(shí)時(shí)的熱電偶控制參數(shù)數(shù)據(jù)，則是保存在高溫箱式馬弗爐的DCS系統(tǒng)中。

       通過自動(dòng)的文件提取和格式解析，寄云提取了玻璃片不同區(qū)域的厚度數(shù)據(jù)，并為其打上時(shí)間標(biāo)簽；同時(shí)，通過OPC接口，讀取高溫箱式馬弗爐DCS的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。將厚度數(shù)據(jù)和實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)都保存在寄云時(shí)序數(shù)據(jù)庫中。

       ② 根據(jù)翹曲厚度數(shù)據(jù)，自動(dòng)定位發(fā)生異常的熱電偶

       將不同時(shí)間段(正常和出現(xiàn)翹曲)的工藝數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，確定正常和異常時(shí)間段哪些熱電偶的控制參數(shù)發(fā)生了變化。

       針對(duì)玻璃片并沒有批次號(hào)碼，因而無法按照批次進(jìn)行質(zhì)量追蹤的問題，寄云開發(fā)了基于相關(guān)性搜索的算法，通過分析確定了跟翹曲變化規(guī)律相似度最高的若干個(gè)控制變量，并確定了工藝參數(shù)變化到翹曲檢測之間的時(shí)間差。

       基于以上的分析，自動(dòng)的定位了導(dǎo)致翹曲的特定的、有最大嫌疑的熱電偶控制參數(shù)，并得到了工藝工程師的確定。

       通過以上的分析，幫助工藝工程師實(shí)現(xiàn)了問題原因的快速定位。

       ③ 根據(jù)歷史的熱電偶數(shù)據(jù)和質(zhì)檢數(shù)據(jù)，建立起翹曲值和熱電偶控制之間的模型

       在大量正常工藝數(shù)據(jù)和質(zhì)檢數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上，構(gòu)建了熱電偶的歷史數(shù)據(jù)(因)和質(zhì)檢數(shù)據(jù)(果)之間的回歸方程，得到一個(gè)表征了因果關(guān)系的映射函數(shù)。

       在映射函數(shù)上可以做兩件事情：

       1)量化調(diào)參：在翹曲發(fā)生的時(shí)候，根據(jù)特定翹曲的目標(biāo)值，反推出對(duì)應(yīng)的熱電偶控制參數(shù)對(duì)應(yīng)的調(diào)整范圍，進(jìn)行精確調(diào)參。在高溫箱式馬弗爐溢流的過程中，高溫箱式馬弗爐里面有數(shù)百個(gè)呈柵格狀分布的熱電偶，在重力下溢的過程中，對(duì)膠狀體進(jìn)行淬火，雖然不同的熱電偶控制參數(shù)都會(huì)設(shè)置容忍的工作范圍，超出門限會(huì)告警。；

       2)虛擬量測：根據(jù)熱電偶控制參數(shù)的當(dāng)前數(shù)據(jù)，基于映射函數(shù)，實(shí)時(shí)預(yù)測未來數(shù)小時(shí)之后的翹曲值，一旦當(dāng)翹曲超過預(yù)設(shè)的門限，立即告警，甚至需要停產(chǎn)。

       03

       應(yīng)用效果

       通過與彩虹特種玻璃工藝工程師的聯(lián)合開發(fā)，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化的工藝數(shù)據(jù)和質(zhì)檢數(shù)據(jù)的集成，提高了問題分析和問題產(chǎn)生原因的定位效率，并實(shí)現(xiàn)了基于實(shí)時(shí)工藝數(shù)據(jù)對(duì)未來數(shù)小時(shí)之后的翹曲缺陷的精準(zhǔn)預(yù)測。

       如需了解更多技術(shù)知識(shí)，歡迎聯(lián)系上海喆圖科學(xué)儀器有限公司。